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利用轻敲模式扫描探针电喷雾电离质谱成像技术研究聚乙烯薄膜中光稳定剂随时间变化的光降解过程
抽象
光稳定剂是广泛用于提高聚合物材料寿命和性能的添加剂。为了开发先进的聚合物材料，分析技术对于研究聚合物中添加剂的降解机理和分布至关重要。本文采用了两种萃取-电离方法：轻敲模式扫描探针电喷雾电离（t-SPESI）和液相萃取表面分析（LESA）。利用含有两种低聚受阻胺光稳定剂（o-HALS）的聚乙烯薄膜，研究了光降解产物的分布和分子结构。此外，为了研究光照时间与光降解产物相对含量之间的关系，我们开发了一种制备具有多个光降解区域的薄膜的方法。基于t-SPESI的质谱成像（t-SPESI-MSI）结果表明，HALS的信号强度随光照时间的延长而降低，其降解产物也逐渐发生变化。此外，采用 LESA 串联质谱 (LESA-MS/MS) 分析表明，聚合物薄膜中 HALS 的碎片化产生了降解产物。综合这些结果，我们提出了光降解产物形成的多步反应模型。结果表明，t-SPESI-MSI 和 LESA-MS/MS 的联用可以直接分析和理解聚合物材料中 o-HALS 的光降解机理。
Advion Interchim 科学® 特里弗萨® 纳米材料® 使用了（Advion，伊萨卡，纽约）。